Наноскан

       Поиск    

Наноскан

НаноСкан-3D


Спецификация

Режимы измерений: Контактный динамический режим сканирования
(рельеф поверхности / карта распределения модуля упругости).
Шаг по XY: 1.5 нм ; Шаг по Z: 0.15 нм
Индентирование /склерометрия
(с макс. нагрузкой до 100 гр.)
Силовая спектроскопия
Динамическое наноиндентирование
Диапазоны измеряемых значений: Твердость: до 80 ГПа
Модуль упругости: до 1000 ГПа
Поле сканирования: XY – до 100 мкм
Z – до 10 мкм
Кантилевер: Пьезо-кантилевер
Инденторы: Алмазная пирамида типа Берковича
Оптическая система высокого разрешения: Видеомикроскоп с регулировкой увеличения 260х-1800х
Размер образцов: до 100 х 100 мм
до 80 мм по высоте
до 5 кг по весу
Система позиционирования образцов: XY: до 100 мм с шагом 1 мкм, моторизованная
Z: до 80 мм с шагом 40 нм, моторизованная