НаноСкан-Мини

Спецификация

Режимы измерений:	Контактный динамический режим сканирования (рельеф поверхности / карта распределения модуля упругости). Шаг по XY: 1.5 нм ; Шаг по Z: 0.15 нм
	Индентирование /склерометрия (с макс. нагрузкой до 20 гр.)
	Силовая спектроскопия
Диапазоны измеряемых значений:	Твердость: до 80 ГПа Модуль упругости: до 1000 ГПа
Поле сканирования:	XY – до 100 мкм Z – до 10 мкм
Кантилевер:	Пьезо-кантилевер
Инденторы:	Алмазная пирамида типа Берковича
Размер образцов:	не ограничен