Сканирование и исследование свойств поверхностей
с нанометровым пространственным разрешением

ПУБЛИКАЦИИ

Применение сканирующих зондовых микроскопов и нанотвердомеров для изучения механических свойств твердых материалов на наноуровне (обобщающая статья). К.В.Гоголинский, Н.А.Львова, А.С.Усеинов. "Заводская лаборатория.Диагностика материалов" №6. 2007 г. Том 73. стр.28 - 36
Определение трещиностойкости хрупких сверхтвердых материалов на наноуровне. А.И. Сошников, Н.А. Львова, К.В.Гоголинский, В.Ф. Кулибаба. Нанотехника, 2006, №1, с.64-67.
М.И.Петржик, Д.В.Штанский, Е.А.Левашов. Современные методы оценки механических и трибологических свойств функциональных поверхностей. Материалы Х Международной научно-технической конференции "Высокие технологии в промышленности России", 2004.
Ye. Bilevych, A. Soshnikov, L. Darchuk, M. Apatskaya, Z. Tsybrii, M. Vuychik, A. Boka, F. Sizov, O. Boelling, B. Sulkio-Cleff. Influence of substrate materials on the properties of CdTe thin films grown by hot-wall epitaxy. Journal of Crystal Growth 275 (2005)
А.С.Усеинов. Измерение модуля сверхтвердых материалов с помощью сканирующего зондового микроскопа "НаноСкан". Приборы и техника эксперимента, 2003, №6, с.1-5.
S. Grudzinskaya, Z. Ya. Kosakovskaya, V. N. Reshetov, A. A. Chaban, Elastic Properties of Dense Nanotube Layers, Acoustical Physics, Vol. 47, No. 5, 2001, pp. 548-551.
V.Blank, M.Popov, G. Pivovarov, N.Lvova, S.Terentev, Mechanical properties of different types of diamonds, Diamond and Related Materials 8 (1999), pp. 1531-1535.
V. Denisov, L. Kuzik, N.Lvova et al., Hard diamond-like layers produced during DIII-D tokamak operations, Physics Letters A 239 (1998), pp.328-331.
K. Gogolinsky, Application SPM NanoScan for investigation of structure and mechanical properties of diamond-like thin films, Proceedings All-Russian Seminar "Probe Microscopy-98" (1998), pp. 72-81 (Was published in Russian only.)
V.Blank, M.Popov, G.Pivovarov, N.Lvova, K.Gogolinsky, V.Reshetov, Ultrahard and superhard phases of fullerite C60: Comparison with diamond on hardness and wear., Diamond and Related Materials 7 (2-5) (1998), pp. 427-431.
Гоголинский К.В., Решетов В.Н. Применение сканирующих зондовых микроскопов для анализа с субмикронным и нанометровым разрешением структуры и распределения механических свойств материалов (обзор), Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 1998, № 6, Т.64, с.30-43.
V.Blank, M.Popov, N.Lvova, K.Gogolinsky, V.Reshetov, Nano-sclerometry measurements of superhard materials and diamond hardness using scanning force microscope with the ultrahard fullerite C60 tip, J. Mater. Res., 12 (1997), 3109.

вверх